Accuracy(精度) Analogue probe(模拟测头) CMM（坐标测量机） Contacting Probing system(接触式探测系统) Probe(测头) Probing system(探测系统) Probe head(测头座) Proportional probe(比例测头) Probe qualification(测头标定) Ram(主轴) Requalification(重新标定) Scanning Probe(扫描测头) Shank(手柄) Stylus(探针) Stylus tip(探针针头) Touch trigger probe(接触式触发测头)
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